EDEVIS LITe Lock-In Thermografie Modul für die Elektronik

EDEVIS LITe

Das EDEVIS LITe erweitert Ihre Fähigkeiten mit jeder Flir A-Serie richtige Lock-In Thermografie zu Betreiben.
Bestehend aus Software, Anregungsmodul und Funktionsgenerator und Ihrer bereits vorhandenen oder zukünftigen Flir Kamera.

Die Lock-In Methode steigert die Empfindlichkeit Ihrer Kamera von mK zu µK und ermöglicht so weitere Applikationen neben der Standart Hotspot suche und thermischer Überwachung.
Neue Applikationen mit dem EDEVIS LITe:

Die Lock-In Methode zeigt hauptsächlich Unterschiede im Thermischen Verhalten und Unterdrückt gleichzeitig die Reflexionen von verschiedenen Materialien.
Defektsuche in Halbleiter Material oder Chips

  • Leckstrom Lokalisierung auf Halbleitern und Prints mit Leistungen im µW Bereich.
  • Hotspot Lokalisierung von wenigen µm
  • Schnelle Kurzschluss Detektion auf Platinen auch bei kleinen Leistungen
  • Zelluntersuchungen an Photovoltaik
  • Rissdetektion in Leitermaterial und Gehäusen
  • Reflektionsunterdrückung bei der Messung.


Verwendbar auf bereits vorhandene oder neue Flir Kameras:

  • A655sc
  • Ax5 Serien (A35sc, A65,…)
  • A325sc
  • A67xxsc oder andere gekühlte Flir Kameras

 

 
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